Сбор средств 15 Сентября 2024 – 1 Октября 2024
О сборе средств
поиск книг
книги
Сбор средств:
70.7% достигнуто
Войти
Войти
авторизованным пользователям доступны:
персональные рекомендации
Telegram бот
история скачиваний
отправить на Email или Kindle
управление подборками
сохранение в избранное
Личное
Запросы книг
Изучение
Z-Recommend
Подборки книг
Самые популярные
Категории
Участие
Поддержать
Загрузки
Litera Library
Пожертвовать бумажные книги
Добавить бумажные книги
Search paper books
Мой LITERA Point
Поиск ключевых слов
Main
Поиск ключевых слов
search
1
Nouvelles approches d’utilisation de la spectroscopie de photoélectrons à rayons X (XPS) pour le développement et le contrôle des technologies FDSOI avancées
Laurent Fauquier
couche
germanium
figure
silicium
sio2
parxps
profil
couches
d’épaisseur
technique
composition
profondeur
pourcentage
mesures
hfon
industriel
l’épaisseur
pic
l’échantillon
hfo2
substrat
angles
spectre
atomique
l’xps
présente
d’azote
meis
profils
paramètre
pics
déterminer
échantillons
l’énergie
surface
spectres
l’empilement
grille
présentant
liaison
métrologie
simulation
énergie
obtenus
chimique
relatif
ions
gradient
angle
faible
Язык:
french
Файл:
PDF, 7.01 MB
Ваши теги:
0
/
0
french
1
Перейдите по
этой ссылке
или найдите бота "@BotFather" в Telegram
2
Отправьте команду /newbot
3
Укажите имя для вашего бота
4
Укажите имя пользователя для бота
5
Скопируйте последнее сообщение от BotFather и вставьте его сюда
×
×